SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

メーカー

Texas Instruments

製品カテゴリ

ロジック - 特殊ロジック

説明

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

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仕様

  • シリーズ
    74BCT
  • パッケージ
    Tape & Reel (TR)
  • 部品の状態
    Obsolete
  • ロジックタイプ
    Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
  • 供給電圧
    4.5V ~ 5.5V
  • ビット数
    8
  • 動作温度
    0°C ~ 70°C
  • 取付タイプ
    Surface Mount
  • パッケージ/ケース
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • サプライヤーデバイスパッケージ
    24-SOIC

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