SN74LVTH182512DGGR

SN74LVTH182512DGGR

メーカー

Texas Instruments

製品カテゴリ

ロジック - 特殊ロジック

説明

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP

仕様

  • シリーズ
    74LVTH
  • パッケージ
    Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)Digi-Reel®
  • 部品の状態
    Active
  • ロジックタイプ
    ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
  • 供給電圧
    2.7V ~ 3.6V
  • ビット数
    18
  • 動作温度
    -40°C ~ 85°C
  • 取付タイプ
    Surface Mount
  • パッケージ/ケース
    64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
  • サプライヤーデバイスパッケージ
    64-TSSOP

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量:
本体価格(参考価格):
8.62000
目標価格:
合計:8.62000