SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

メーカー

Texas Instruments

製品カテゴリ

ロジック - 特殊ロジック

説明

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

仕様

  • シリーズ
    74BCT
  • パッケージ
    Tube
  • 部品の状態
    Obsolete
  • ロジックタイプ
    Scan Test Device with Inverting Buffers
  • 供給電圧
    4.5V ~ 5.5V
  • ビット数
    8
  • 動作温度
    0°C ~ 70°C
  • 取付タイプ
    Through Hole
  • パッケージ/ケース
    24-DIP (0.300", 7.62mm)
  • サプライヤーデバイスパッケージ
    24-PDIP

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